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JT-2000系列比表面及孔隙率分析儀是一款應(yīng)用于介孔、大孔納米材料的單分析站全自動(dòng)物理吸附分析儀；比表面積及孔徑分析儀采用一體化設(shè)計(jì)，即脫氣模塊集成于儀器主機(jī)上，為實(shí)驗(yàn)室減少大量空間；同時(shí)其脫氣模塊和分析模塊又相互獨(dú)立，具有獨(dú)立的氣路系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和真空系統(tǒng)，可以同時(shí)運(yùn)行，互不影響。

比表面積分析儀，采用Nelsen和Eggertsen提出的連續(xù)流動(dòng)法（標(biāo)樣比對(duì)法）作為測(cè)定方法，在低溫液氮作用下，氦氮混合氣連續(xù)通入樣品管，混合氣中的氮?dú)獗粯悠烽_始吸附至飽和的過程出現(xiàn)吸附信號(hào)，然后脫離液氮環(huán)境，在升溫的過程中被吸附的氮?dú)忾_始脫附至*脫附的過程中出現(xiàn)脫附信號(hào)。

JT-2000系列比表面及孔徑分析儀是一款應(yīng)用于介孔、大孔納米材料的單分析站全自動(dòng)物理吸附分析儀；比表面積及孔徑分析儀采用一體化設(shè)計(jì)，即脫氣模塊集成于儀器主機(jī)上，為實(shí)驗(yàn)室減少大量空間；同時(shí)其脫氣模塊和分析模塊又相互獨(dú)立，具有獨(dú)立的氣路系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和真空系統(tǒng)，可以同時(shí)運(yùn)行，互不影響。